Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"Wendel, Marc"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wendel, Marc1 (AUTHOR) marc.wendel@ametek.com
Publikováno v:
Nanomanufacturing & Metrology. Dec2023, Vol. 6 Issue 1, p1-8. 8p.
Autor:
DeGroote Nelson, Jessica, Unger, Blair L., Navare, Jayesh, Ren, Lei, Wendel, Marc, Hennemann, Nina, Fitzgibbon, Neil, Yu, Yang
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12778 Issue: 1 p127780H-127780H-6, 1150027p
Autor:
Berger, Gernot1, Wendel, Marc1
Publikováno v:
Optik & Photonik. Feb2018, Vol. 13 Issue 1, p40-43. 4p.
Autor:
Wendel, Marc
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 8/22/2019, Vol. 11171, p1-7, 7p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 1/16/2024, Vol. 12778, p127780H-127780H-6, 1p
Autor:
Wendel, Marc
Die Qualität hoch beanspruchter Oberflächen wird durch ihre Funktion festgelegt. Sogenannte Funktionsflächen sind dabei in vielen Bereichen der modernen Industrie zu finden. Zur Überwachung des Herstellungsprozesses dieser Flächen besteht daher
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cc34ef4404c2fead30707b5158935bdd
https://kluedo.ub.rptu.de/frontdoor/index/index/docId/4240
https://kluedo.ub.rptu.de/frontdoor/index/index/docId/4240
Autor:
Kovačičinová, Jana, Wendel, Marc
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; December 2019, Vol. 11385 Issue: 1 p113850M-113850M-5, 1024656p
Autor:
Kovačičinová, Jana, Wendel, Marc
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 3/23/2020, Vol. 11385, p113850M-113850M-5, 1p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; June 2019, Vol. 11171 Issue: 1 p1117109-1117109-7