Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"Wen, Yongbing"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hussain, Danish1,2 danishasefi@hit.edu.cn, Wen, Yongbing1, Zhang, Hao1, Song, Jianmin1, Xie, Hui1 xiehui@hit.edu.cn
Publikováno v:
Sensors (14248220). Jan2018, Vol. 18 Issue 1, p100. 11p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Ultramicroscopy January 2019 196:83-87
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2018 International Conference on Manipulation, Automation and Robotics at Small Scales (MARSS).
Sidewall imaging of micro and nano structures is essential for critical dimensional metrology in the semiconductor industry. Atomic force microscope is an important sidewall imaging instrument due to its three dimensional imaging capability, high acc
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c3c5990631fe4b92047e40181461842f
https://doi.org/10.1109/marss.2018.8481199
https://doi.org/10.1109/marss.2018.8481199
Publikováno v:
2017 IEEE 17th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO).
Amplitude calibration of the quartz tuning fork (QTF) sensor includes the measurement of the sensitivity factor (α TF ). We propose, AFM based methods (cantilever tracking and z-servo tracking of the QTF's amplitude of vibration) to determine the se
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c77d93dae3b6e324672e1813409dc9c3
https://doi.org/10.1109/nano.2017.8117406
https://doi.org/10.1109/nano.2017.8117406
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industrial Electronics; Apr2020, Vol. 67 Issue 4, p2916-2924, 9p
High-Speed AFM Imaging of Nanopositioning Stages Using H$_{\infty }$ and Iterative Learning Control.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industrial Electronics; Mar2020, Vol. 67 Issue 3, p2430-2439, 10p