Zobrazeno 1 - 10
of 155
pro vyhledávání: '"Wen, Shi Jie"'
Autor:
Gunes, Ozan, Onumonu, Onyebuchi I., Gholizadeh, A. Baset, Zhang, Chunzi, Yang, Qiaoqin, Wen, Shi-Jie, Curry, Richard J., Johanson, Robert E., Kasap, Safa O.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 7/7/2024, Vol. 136 Issue 1, p1-13, 13p
Autor:
Li, Zongru, Elash, Christopher, Jin, Chen, Chen, Li, Wen, Shi-Jie, Fung, Rita, Xing, Jiesi, Shi, Shuting, Yang, Zhi Wu, Bhuva, Bharat L.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability July 2023 146
Autor:
Jia, Han, Wei, Xin, Wang, Qiu-Xia, Wang, Yuan-Bo, Wen, Shi-Jie, Fan, Fang-Ning, Wang, Qiang, Wang, Zhe, Liu, De-Xin, Huang, Pan
Publikováno v:
In Petroleum Science April 2023 20(2):1217-1224
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Pervasive and Mobile Computing January 2021 70
Autor:
Zhang, Chunzi, Koughia, Cyril, Güneş, Ozan, Luo, Jun, Hossain, Nazmul, Li, Yuanshi, Cui, Xiaoyu, Wen, Shi-Jie, Wong, Rick, Yang, Qiaoqin, Kasap, Safa
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 25 December 2020 848
Autor:
Baeg, Sanghyeon, Qasim, Mirza, Kwon, Junhyeong, Li, Tan, Gupta, Nilay, Wen, Shi-Jie, Kolli, Satyadev
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2019 99:104-112
Autor:
Zhang, Chunzi, Wang, Jian, Li, Yuanshi, Li, Xiaoju, Koughia, Cyril, Wen, Shi-Jie, Wong, Rick, Yang, Qiaoqin, Kasap, Safa
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 May 2019 476:259-264