Zobrazeno 1 - 10 of 12 pro vyhledávání: '"Weinzierl, S. R."'
1
Conference
SOI Material Properties Determined by Electrical Characterization.
Autor: Rai-Choudhury, P., Hillard, R. J., Heddleson, J. M., Weinzierl, S. R., Abe, T., Karulkar, P., Pawlik, M.
Publikováno v: ESSDERC '92: 22nd European Solid State Device Research conference; 1992, p827-830, 4p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Evaluation of diamond-ground beveled surfaces with Hg gate capacitance-voltage and current-voltage.
Autor: Hillard, R. J., Sherbondy, J. C., Hartford, C. L., Weinzierl, S. R., Mazur, R. G.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1998, Vol. 16 Issue 1, p411-414, 4p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Accurate profiling of ultra-shallow implants with mercury gate metal-oxide-semiconductor capacitance-voltage.
Autor: Dudal, Roger Le, Hillard, R. J., Heddleson, J. M., Weinzierl, S. R., Rai-Choudhury, P., Mazur, R. G.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 1, p336-341, 6p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Profiling of silicide-silicon structures using a combination of the spreading resistance and point contact current-voltage methods.
Autor: Heddleson, J. M., Weinzierl, S. R., Hillard, R. J., Rai-Choudhury, P., Mazur, R. G.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 1, p317-321, 5p
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Detection of anomalous defect-enhanced diffusion using advanced spreading resistance measurements and analysis.
Autor: Weinzierl, S. R., Hillard, R. J., Heddleson, J. M., Rai-Choudhury, P., Mazur, R. G., Osburn, C. M.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 1, p322-326, 5p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
A thermodynamic comparison of rhombic-drive and slider–crank mechanisms for a two-stroke SI engine.
Autor: Gultekin, Erol, Cinar, Can
Publikováno v: Energy Sources Part A: Recovery, Utilization & Environmental Effects; 2022, Vol. 44 Issue 1, p1060-1077, 18p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
Recent Developments in Electrical Metrology for MOS Fabrication.
Autor: Hillard, Robert J., Benjamin, Mark C., Brown, George A.
Publikováno v: AIP Conference Proceedings; 2005, Vol. 788 Issue 1, p287-296, 10p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Author index.
Publikováno v: Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology; 1996, p829-832, 4p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
LOSS OF LINEAR MOMENTUM IN AN ELECTRODYNAMICS SYSTEM: FROM AN ANALYTICAL APPROACH TO SIMULATIONS.
Autor: Charrier, D. S. H.
Publikováno v: Progress in Electromagnetics Research M; May2010, Vol. 13, p69-82, 14p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
MC simulation of ultrafast transistor using ballistic electron in intrinsic semiconductor and its fabrication feasibility.
Autor: Furuya, K., Machida, N., Igarashi, M., Nakagawa, R., Kashima, I., Ishida, M., Miyamoto, Y.
Publikováno v: Journal of Physics: Conference Series; 2006, Vol. 38 Issue 1, p1-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje