Zobrazeno 1 - 10
of 53
pro vyhledávání: '"Weger, A.J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2011, p1-4, 4p
Publikováno v:
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p640-649, 10p
Publikováno v:
2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference; 2007, p351-355, 5p
Publikováno v:
2004 International Conference on Test; 2004, p140-147, 8p
Publikováno v:
Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850); 2004, p205-208, 4p
Autor:
Stellari, F., Peilin Song, McManus, M.K., Gauthier, R., Weger, A.J., Chatty, K., Muhammad, M., Sanda, P.
Publikováno v:
International Test Conference, 2003. Proceedings ITC 2003; 2003, p236-245, 10p
Autor:
Restle, P.J., Carter, C.A., Eckhardt, J.P., Krauter, B.L., McCredie, B.D., Jenkins, K.A., Weger, A.J., Mule, A.V.
Publikováno v:
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315); 2002, p108-424, 317p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2010 IEEE Symposium on VLSI Circuits (VLSIC); 2010, p55-56, 2p