Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Wee, Y.J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lee, K.-W., Shin, H.J., Wee, Y.J., Kim, T.K., Kim, A.T., Kim, J.H., Choi, S.M., Suh, B.S., Lee, S.J., Park, K.-K., Hwang, J.W., Nam, S.W., Moon, Y.J., Ku, J.E., Lee, H.J., Kim, M.Y., Oh, I.H., Maeng, J.Y., Kim, I.R., Lee, J.E.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p957-960, 4p
Autor:
Song, W.S., Kim, T.J., Lee, D.H., Kim, T.K., Lee, C.S., Kim, J.W., Kim, S.Y., Jeong, D.K., Park, K.C., Wee, Y.J., Suh, B.S., Choi, S.M., Kang, H.-K., Suh, K.P., Kim, S.U.
Publikováno v:
2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings 40th Annual (Cat. No.02CH37320); 2002, p305-311, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Park, I.S., Lee, S.I., Wee, Y.J., Jung, W.S., Choi, G.H., Park, C.S., Park, S.H., Ahn, S.T., Lee, M.Y., Kim, Y.K., Reynolds, R.
Publikováno v:
Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting; 1994, p109-112, 4p
Autor:
Lee, K.-W., Shin, H.J., Hwang, J.W., Nam, S.W., Moon, Y.J., Wee, Y.J., Kim, I.G., Park, W.J., Kim, J.H., Lee, S.J., Park, K.K., Kang, H.-K., Suh, K.-P.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729); 2004, p57-59, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Song, W.S., Lee, C.S., Park, K.C., Suh, B.S., Kim, J.W., Kim, S.Y., Wee, Y.J., Choi, S.M., Kang, H.-K., Kim, S.U., Suh, K.P.
Publikováno v:
2002 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.01CH37303); 2002, p222-223, 2p