Zobrazeno 1 - 1
of 1
pro vyhledávání: '"Wechselwirkung von Kristalldefekten"'
Autor:
Niehle, Michael
Elektronentomographie erlaubt die dreidimensionale (3D) Charakterisierung von Kristalldefekten auf der Nanometerskala. Die Anwendung in der Forschung an epitaktischen Halbleiterheterostrukturen ist bisher nicht durchgesetzt worden, obwohl kleiner wer
Externí odkaz:
http://edoc.hu-berlin.de/18452/18259
