Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Wason, V."'
Autor:
Qiang Chen, Balasubramanian, S., Thuruthiyil, C., Gupta, M., Wason, V., Subba, N., Jung-Suk Goo, Chiney, P., Krishnan, S., Icel, A.B.
Publikováno v:
2008 9th International Conference on Solid-State & Integrated-Circuit Technology; 2008, p448-451, 4p
Autor:
Qiang Chen, Zhi-Yuan Wu, Ly, T., Gupta, M., Wason, V., Jung-Suk Goo, Thuruthiyil, C., Radwin, M., Subba, N., Chiney, P., Suryagandh, S., Icel, A.B.
Publikováno v:
2008 9th International Conference on Solid-State & Integrated-Circuit Technology; 2008, p284-287, 4p
Publikováno v:
20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07); 2007, p271-277, 7p
Autor:
Qiang Chen, Zhi-Yuan Wu, Su, R.Y.K., Jung-Suk Goo, Thuruthiyil, C., Radwin, M., Subba, N., Suryagandh, S., Tran Ly, Wason, V., An, J.X., Icel, A.B.
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p272-275, 4p
Publikováno v:
Proceedings 41st Design Automation Conference, 2004; 2004, p884-887, 4p
Autor:
Goo, J.-S., Chen, Q., Pandey, A., Apanovich, Y., Ly, T., Wason, V., Subba, N., Thuruthiyil, C., Icel, A.B.
Publikováno v:
2008 IEEE International SOI Conference; 2008, p153-154, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.