Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Wang Linzi"'
Publikováno v:
In Engineering Structures 1 February 2025 324
Publikováno v:
Journal of Electronic Business & Digital Economics, 2022, Vol. 1, Issue 1/2, pp. 50-65.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/JEBDE-07-2022-0023
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chen, Ming, Wang, Linzi
Publikováno v:
In The Journal of Academic Librarianship November 2022 48(6)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IJCNN
News reprint analysis is gradually becoming a hot research topic. Most existing studies in news reprint analysis mainly focus on mining news reprint relations, there is little study exploring the detection of the patterns of news reprint yet. To fill
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d2374839ec0b85f4facad52f38426209
https://doi.org/10.1109/ijcnn52387.2021.9533750
https://doi.org/10.1109/ijcnn52387.2021.9533750
Publikováno v:
Instrumentation Science & Technology. 44:127-138
A multi-probe in situ temperature monitoring system with a closed-loop process control has been developed using the technique of emissivity-compensated pyrometry for semiconductor epitaxial growth via metal-organic chemical vapor deposition. A stand-
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b98cef628c1f9e1e97224d2478e14490
https://doi.org/10.1080/10739149.2015.1081934
https://doi.org/10.1080/10739149.2015.1081934
Publikováno v:
2013 Third International Conference on Instrumentation, Measurement, Computer, Communication and Control.
In the process of semiconductor layer growth by metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD), temperature measurement errors occur due to deposition on the reactor view port. This temperature shift is detrimental for the fabrication of devices. In
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0deea5ece4b032c90c3c3c27cf5b511e
https://doi.org/10.1109/imccc.2013.199
https://doi.org/10.1109/imccc.2013.199