Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Walraven, Jeremy A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Walraven, Jeremy jawalra@sandia.gov
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. May2016, Vol. 18 Issue 2, p30-56. 4p.
Autor:
Walraven, Jeremy jawalra@sandia.gov
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Feb2010, Vol. 12 Issue 1, p35-37. 3p.
Autor:
Walraven, Jeremy A. jawalra@sandia.gov
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Aug2009, Vol. 11 Issue 3, p34-36. 3p.
Autor:
Perry, Daniel L., Cummings, Damion P., Walraven, Jeremy A., Jordan, Matthew B., Michael, Joseph R., Deitz, Julia I.
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2022 Supplement, Vol. 28, p78-79, 2p
Autor:
Walraven, Jeremy jawalra@sandia.gov, Hartfield, Cheryl Cheryl.HARTFIELD@omniprobe.oxinst.com, Zhiyong Wang Zhiyong.Wang@maximintegrated.com
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Feb2015, Vol. 17 Issue 1, p2-10. 2p.
Autor:
Walraven, Jeremy A., Cole Jr., Edward I., Barr, David L., Anderson, Richard E., Kilgo, Alice, Maciel, John J., Morrison, Richard, Karabudak, Nafiz N.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p165-172, 8p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p81-88, 8p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p15-21, 7p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2003, Issue 1, p81-86, 6p