Zobrazeno 1 - 10
of 318
pro vyhledávání: '"Wahlbrink T."'
Autor:
Lemme, M. C., Echtermeyer, T. J., Baus, M., Szafranek, B. N., Bolten, J., Schmidt, M., Wahlbrink, T., Kurz, H.
Publikováno v:
Solid State Electronics, Vol. 52. Issue 4, pp. 514-518, 2008
In this work, double-gated field effect transistors manufactured from monolayer graphene are investigated. Conventional top-down CMOS-compatible processes are applied except for graphene deposition by manual exfoliation. Carrier mobilities in single-
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0809.5099
Autor:
Cegielski, P.J., Bolten, J., Kim, J.W., Schlachter, F., Nowak, C., Wahlbrink, T., Giesecke, A.L., Lemme, M.C.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 5 October 2018 197:83-86
Autor:
Dabos, G., Manolis, A., Giesecke, A.L., Porschatis, C., Chmielak, B., Wahlbrink, T., Pleros, N., Tsiokos, D.
Publikováno v:
In Optics Communications 15 December 2017 405:35-38
We reported two-magnon Raman scattering from La_{1.9}Sr_{0.1}CuO_4, which has a suppressed Tc=12 K, as the temperature is lowered below 37 K and an ordered spin phase is formed. The two-magnon Raman intensity increases with decreasing temperature. Th
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9812027
Publikováno v:
In Procedia Engineering 2010 5:1300-1303
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Current Applied Physics October 2008 8(6):669-674
Autor:
Wahlbrink, T., Bolten, J., Mollenhauer, T., Kurz, H., Baumann, K., Moll, N., Stöferle, T., Mahrt, R.F.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering May-June 2008 85(5-6):1425-1428
Autor:
Belete, Melkamu Adgo, Schneider, D., Reato, E., Engström, O., Wang, Z., Wahlbrink, T., Kataria, Satender, Lemme, Max C.
Publikováno v:
237. ECS Meeting with the 18th International Meeting on Chemical Sensors, IMCS 2020, Montreal, Canada, 2020-05-10-2020-05-14
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______791::f359ae8d430837c42ea8a18248262b81
https://publications.rwth-aachen.de/record/794476
https://publications.rwth-aachen.de/record/794476
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(5):1045-1048