Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Wagatsuma, Youya"'
Autor:
Yamamoto, Keisuke, Matsuo, Takuro, Yamada, Michihiro, Wagatsuma, Youya, Sawano, Kentaro, Hamaya, Kohei
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 15 November 2023 167
Autor:
Sugiura, Yuwa, Sasaki, Masashi, Wagatsuma, Youya, Yamada, Koudai, Hoshi, Yusuke, Yamada, Michihiro, Hamaya, Kohei, Sawano, Kentarou
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 15 September 2022 594
Autor:
Wagatsuma, Youya, Mahfuz Alam, Md., Okada, Kazuya, Kanesawa, Rena, Yamada, Michihiro, Hamaya, Kohei, Sawano, Kentarou
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1 July 2022 589
Autor:
Tajima, Kota, Yamanaka, Junji, Arimoto, Keisuke, Hara, Kosuke O, Wagatsuma, Youya, Sawano, Kentarou
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yusuke Hoshi, Wagatsuma Youya, Michihiro Yamada, Kentarou Sawano, Kohei Hamaya, Kazuya Okada, Md. Mahfuz Alam
Publikováno v:
ECS Transactions. 98:499-503
We fabricate tensile-strained SiGe layers on patterned Ge-on-Si(111) and investigate their surface morphologies and strain states. It is demonstrated that the surface ridge roughness involving crack formation is completely avoided by the patterning o
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.