Zobrazeno 1 - 10
of 88
pro vyhledávání: '"Wafer test"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2022 IEEE 5th International Conference on Industrial Cyber-Physical Systems (ICPS)
At the heart of Industry 4.0. lies the automation of manufacturing processes and interoperability of corresponding applications, in most cases utilizing Cyber-Physical Systems and Internet of Things. Used within diverse industrial areas across the wo
Autor:
R. B. Borisov, R. G. Arnaudov
Publikováno v:
Telfor Journal, Vol 4, Iss 2, Pp 138-143 (2012)
Methodology for extracting an effective dielectric constant of microstrip transmission lines on multilayer substrates, from measured or simulated S-parameters data, using on-chip test structures, has been demonstrated. The methodology consists of: 1)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ead8cdc7a30a4b05ab2ee01912e3f74f
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.