Zobrazeno 1 - 10
of 3 845
pro vyhledávání: '"Wafer test"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Journal of Production Research. 1/15/2004, Vol. 42 Issue 2, p215-242. 28p. 1 Black and White Photograph, 10 Charts, 5 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Azzoni, S.1,2 (AUTHOR) susanna.azzoni@postgrad.manchester.ac.uk, May, A. J.1,3,4 (AUTHOR), Chase, S. T.5 (AUTHOR), Coppi, G.6 (AUTHOR), Kenny, L. C.5 (AUTHOR), Melhuish, S. J.1 (AUTHOR), Piccirillo, L.1,7 (AUTHOR), Suzuki, A.8 (AUTHOR), Wenninger, J.1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of Low Temperature Physics. May2020, Vol. 199 Issue 3/4, p771-779. 9p.
Autor:
Yibang Wang, Xingchang Fu, Aihua Wu, Ye Huo, Chen Liu, Peng Luan, Lihua Lei, Faguo Liang, Chong Li
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 71:682-690
This article presents an advanced calibration method for solving the error terms due to probe–probe leakage in an on-wafer test system. A new 12-term error model for the on-wafer test system including vector network analyzer (VNA), frequency extend
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c505f816cf064dc45e805416bba300a2
https://doi.org/10.1109/tmtt.2022.3200050
https://doi.org/10.1109/tmtt.2022.3200050
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.