Zobrazeno 1 - 4 of 4 pro vyhledávání: '"Wadhawan, O. P."'
1
Akademický článek
Resist debris formation and proximity exposure effect in electron beam lithography.
Autor: Deshmukh, P. R., Rangra, K. J., Wadhawan, O. P.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2000, Vol. 18 Issue 2, p873-876, 4p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Fabrication of new polypyrrole/silicon nitride hybrid materials for potential applications in electrochemical sensors: Synthesis and characterization.
Autor: Nessark, Faiza1,2 (AUTHOR) faiza_nessark@yahoo.fr, Zouaoui, Ahmed3 (AUTHOR), Garcia-Cruz, Alvaro1 (AUTHOR), Bonhomme, Anne1 (AUTHOR), Lee, Michael1 (AUTHOR), Nessark, Belkacem2 (AUTHOR), Zine, Nadia1 (AUTHOR), Marote, Pedro1 (AUTHOR), Bausells, Joan4 (AUTHOR), Baraket, Abdoullatif1 (AUTHOR), Errachid, Abdelhamid1 (AUTHOR) abdelhamid.errachid@univ-lyon1.fr
Publikováno v: Journal of Macromolecular Science: Pure & Applied Chemistry. 2017, Vol. 54 Issue 11, p827-834. 8p.
Zobrazit plný text záznamu
3
Periodical
The filling of via-holes by a sputtered AlSi alloy and the development of a two-level metallisation structure
Autor: Nahar, R. K., Devashrayee, N. M., Wadhawan, O. P., Vyas, P. D.
Publikováno v: Microelectronics Reliability; 1993, Vol. 33 Issue: 2 p143-143, 1p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Review-Silicon Nitride and Silicon Nitride-Rich Thin Film Technologies: Trends in Deposition Techniques and Related Applications.
Autor: Kaloyeros, Alain E., Jové, Fernando A., Goff, Jonathan, Arkles, Barry
Publikováno v: ECS Journal of Solid State Science & Technology; 2017, Vol. 6 Issue 10, pP691-P714, 24p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje