Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"WANG Kechang"'
Publikováno v:
Journal of Aeronautical Materials, Vol 40, Iss 2, Pp 53-60 (2020)
Surface integrity state after machining has an important effect on the service life of metal parts and components. The effects of four kinds of surface integration processing methods on the high-temperature fatigue properties of FGH95 alloy were inve
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ed17d2d5e1004c988eae29bed306a665
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Preil, Moshe E., Renwick, Stephen P., Pang, Linyong (Leo), Russell, Ezequiel V., Baggenstoss, Bill, Lu, Yang, Lee, Michael, Digaum, Jennefir, Yang, Ming-Chuan, Pearman, Ryan, Ungar, P. Jeffrey, Sha, Lu, Bouaricha, Ali, Pomerantsev, Michael, Niewczas, Mariusz, Wang, Kechang, Su, Bo, Meyer, Michael, Fujimura, Aki
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; October 2020, Vol. 11518 Issue: 1 p115180W-115180W-18, 11402839p
Autor:
Rankin, Jed H., Preil, Moshe E., Pang, Linyong, Russell, Ezequiel Vidal, Baggenstoss, Bill, Lee, Michael, Digaum, Jennefir, Yang, Ming-Chuan, Ungar, P. Jeffrey, Bouaricha, Ali, Wang, Kechang, Su, Bo, Pearman, Ryan, Fujimura, Aki
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; September 2019, Vol. 11148 Issue: 1 p111480U-111480U-16, 11036537p
Autor:
Kim, Byung-Gook, Suh, Sung Soo, Kim, Byung-Sung, Woo, Sang-Gyun, Cho, Han-Ku, Tolani, Vikram, Dai, Grace, Irby, Dave, Wang, Kechang, Xiao, Guangming, Kim, David, Baik, Ki-Ho, Gleason, Bob
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p73791M-73791M-11, 11p
Autor:
Shim, Yeonah, Jun, Sungho, Choi, Jaeyoung, Choi, Kwangseon, Han, Jae-won, Wang, Kechang, McCarthy, John, Xiao, Guangming, Dai, Grace, Son, DongHwan, Zhou, Xin, Cecil, Thomas, Kim, David, Baik, KiHo
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2009, Issue 1, p748837-748837-8, 8p
Pushing the lithography limit: applying inverse lithography technology (ILT) at the 65nm generation.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2006 Part 2, Issue 1, p61541M-61541M-10, 10p
Autor:
Hung, Chi-Yuan, Zhang, Bin, Tang, Deming, Guo, Eric, Pang, Linyong, Liu, Yong, Moore, Andrew, Wang, Kechang
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005 Part 2, Issue 1, p59921U-59921U-9, 9p
Publikováno v:
Analog Integrated Circuits & Signal Processing; Jul2001, Vol. 28 Issue 1, p27-34, 8p