Zobrazeno 1 - 10 of 846 pro vyhledávání: '"WAFER-scale integration of circuits"'
1
Akademický článek
Controlled crack propagation for atomic precision handling of wafer-scale two-dimensional materials.
Autor: Shim, Jaewoo1,2 (AUTHOR), Bae, Sang-Hoon1,2 (AUTHOR), Wei Kong1,2 (AUTHOR), Doyoon Lee1,2 (AUTHOR), Kuan Qiao1,2 (AUTHOR), Nezich, Daniel3 (AUTHOR), Yong Ju Park4 (AUTHOR), Zhao, Ruike1,5 (AUTHOR), Sundaram, Suresh6 (AUTHOR), Xin Li6 (AUTHOR), Yeon, Hanwool1,2 (AUTHOR), Choi, Chanyeol1,2 (AUTHOR), Hyun Kum1,2 (AUTHOR), Yue, Ruoyu7 (AUTHOR), Guanyu Zhou7 (AUTHOR), Yunbo Ou8 (AUTHOR), Kyusang Lee1,2,9 (AUTHOR), Moodera, Jagadeesh8 (AUTHOR), Xuanhe Zhao1 (AUTHOR), Ahn, Jong-Hyun4 (AUTHOR)
Publikováno v: Science. 11/9/2018, Vol. 362 Issue 6415, p665-670. 6p. 1 Color Photograph.
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Experimental characterization of wafer probe burn.
Autor: ZAFER, Baha1 baha.zafer@istanbul.edu.tr, TUNABOYLU, Bahadır2
Publikováno v: Turkish Journal of Electrical Engineering & Computer Sciences. 2016, Vol. 24 Issue 5, p3513-3523. 11p.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
A parameterized-dispatching rule for a Logic IC sort in a wafer fabrication.
Autor: Lin, J. T.1, Wang, F. K.2 fukwun@mail.ntust.edu.tw, Kuo, P. C.1
Publikováno v: Production Planning & Control. Jul2005, Vol. 16 Issue 5, p426-436. 11p.
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Graphene/Si-nanowire heterostructure molecular sensors.
Autor: Jungkil Kim1, Si Duk Oh1, Ju Hwan Kim1, Dong Hee Shin1, Sung Kim1, Suk-Ho Choi1 sukho@khu.ac.kr
Publikováno v: Scientific Reports. 6/20/2014, p1-5. 5p.
Zobrazit plný text záznamu
5
Periodical
Chip squeeze.
Autor: Wiegner, Kathleen K.
Publikováno v: Forbes. 3/4/1991, Vol. 147 Issue 5, p119-120. 2p. 2 Color Photographs.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Wafer-scale integration of group III-V lasers on silicon using transfer printing of epitaxial layers.
Autor: Justice, John1, Bower, Chris2, Meitl, Matthew2, Mooney, Marcus B.3, Gubbins, Mark A.3, Corbett, Brian1
Publikováno v: Nature Photonics. Sep2012, Vol. 6 Issue 9, p612-616. 5p. 1 Diagram, 3 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
7
Periodical
Six-axis stage advances optical probing of wafers.
Autor: Kidd, Steve1 skidd@mellesgriot.com, Pearson, Matt2 matt.pearson@Inloptenia.com, Sayavong, Boumy2 boumy.sayavong@Inloptenia.com
Publikováno v: Laser Focus World. Mar2004, Vol. 40 Issue 3, p71-76. 4p. 3 Color Photographs, 1 Graph.
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Development of a new cluster index for wafer defects.
Autor: Tong, Lee-Ing1, Wang, Chung-Ho2 wch@ccit.edu.tw, Chen, Da-Lun3
Publikováno v: International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Dec2006, Vol. 31 Issue 7/8, p705-715. 11p. 2 Diagrams, 3 Charts, 15 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Modeling Selective Attention Using a Neuromorphic Analog VLSI Device.
Autor: Indiveri, Giacomo1
Publikováno v: Neural Computation. Dec2000, Vol. 12 Issue 12, p2857-2880. 24p. 6 Diagrams, 6 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene Field-Effect Transistors—Part II: Analysis of Device Properties.
Autor: Smith, Anderson D.1, Malm, B. Gunnar1, Ostling, Mikael1, Wagner, Stefan2, Kataria, Satender2, Lemme, Max C.2
Publikováno v: IEEE Transactions on Electron Devices. Sep2017, Vol. 64 Issue 9, p3927-3933. 7p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje