Zobrazeno 1 - 10
of 11
pro vyhledávání: '"W.W. Weick"'
Autor:
W.W. Weick
Publikováno v:
IEEE Transactions on Reliability. :109-115
Leakage current measurements were made across the surface of silicon test chips up to a temperature of 130°C (403°K) and 70% relative humidity (RH) to develop a more accelerated temperature-humidity-bias corrosion test. Several equations were fitte
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::31d9c0a878cde3f4e066651f169c11dc
https://doi.org/10.1109/tr.1980.5220744
https://doi.org/10.1109/tr.1980.5220744
Autor:
W.W. Weick, J.C. North
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits. 11:500-505
Laser beam coding of high-speed bipolar silicon integrated circuit memories is described. Coding is accomplished by the selective vaporization of Ti-Pt links connecting the contact pads of each memory cell to Ti-Pt-Au bit lines. Vaporized link resist
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a38c6e1c1160f6f3f444292404f7f56d
https://doi.org/10.1109/jssc.1976.1050766
https://doi.org/10.1109/jssc.1976.1050766
Publikováno v:
1983 International Electron Devices Meeting.
We present new experimental results on optimally scaled MOSFETs with channel lengths below 0.25 µm. These devices have been fabricated using a modified NMOS process. All patterns have been defined by direct-beam writing using both positive and negat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6ba14d4f89911484d9fc43d805c4c859
https://doi.org/10.1109/iedm.1983.190522
https://doi.org/10.1109/iedm.1983.190522
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.