Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"W.H. Mattheus"'
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits. 12:163-170
The validity of the charge control approach is checked for the normal (upward) operation of an I/SUP 2/L gate, leading to the conclusion that deviations are mainly due to the distributed nature of the base resistance. An alternative method is present
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5dd5f8cf6c78fc33036d82854515748d
https://doi.org/10.1109/jssc.1977.1050866
https://doi.org/10.1109/jssc.1977.1050866
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.