Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"W.F. Van Den Bogert"'
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures.
Publikováno v:
Proceedings., 39th Electronic Components Conference.
Publikováno v:
Surface science, 105(1), 275-288. Elsevier
The effect of low energy noble gas ion bombardment on the electrical and optical properties of Si(211) surfaces has been investigated by surface conductivity and field effect measurements, ellipsometry and AES. With this combination of techniques, in
Publikováno v:
IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. 12:587-593
The distribution of die surface stresses in integrated circuits has been determined experimentally using a specially designed semiconductor strain gauge array. Specifically, 28-pin dual-in-line packages were assembled with different molding compounds
Publikováno v:
IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. 11:245-252
To examine molding-compound-induced stresses, and to determine the influence of the time-dependent and temperature-dependent thermomechanical properties of the molding compound, a linear viscoelastic analysis has been applied to a simple bilayer stru
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.