Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"W.E. Sayle"'
Autor:
J.L.A. Hughes, W.E. Sayle
Publikováno v:
FIE '98. 28th Annual Frontiers in Education Conference. Moving from 'Teacher-Centered' to 'Learner-Centered' Education. Conference Proceedings (Cat. No.98CH36214).
Georgia Institute of Technology is one of five institutions that participated in pilot evaluations under ABET Engineering Criteria 2000. This paper describes the assessment process used by the School of Electrical and Computer Engineering, including
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fe537126bb346ffedad6ef17f56dc716
https://doi.org/10.1109/fie.1998.738843
https://doi.org/10.1109/fie.1998.738843
Autor:
J.L.A. Hughes, W.E. Sayle
Publikováno v:
34th Annual Frontiers in Education, 2004. FIE 2004..
The FIE 2004 open forum provides an opportunity for conference attendees to make short presentations on topics of interest related to engineering, technology, and computing education. The primary goal is to allow attendees to raise new and/or controv
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::21f2f45e1fd689ce838be7dfec0b8736
https://doi.org/10.1109/fie.2004.1408751
https://doi.org/10.1109/fie.2004.1408751
Publikováno v:
Conference Record of the 1988 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting.
An adjustable-speed drive acting on the auxiliary winding of single-phase induction motors is described. Speed variations are obtained by adjusting the electromagnetic torque by controlling the auxiliary winding voltage magnitude and phase angle whil
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cb88d88391b4c0e1629bfca0b47582b4
https://doi.org/10.1109/ias.1988.25070
https://doi.org/10.1109/ias.1988.25070
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 53:5427-5434
Absolute cross sections for the single, double, triple, and quadruple ionization of Cs+ ions by electron impact have been measured from below their respective thresholds to approximately 5000 eV. These measurements have been made using a crossed beam
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9528bfc0a1f3322644bf5ccfa4061d59
https://doi.org/10.1063/1.331472
https://doi.org/10.1063/1.331472
Autor:
W.E. Sayle, P.O. Lauritzen
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 18:58-66
Ionization rates in semiconductors can be measured at low values of electric field using a new method involving a field-effect transistor (FET) structure which offers greater sensitivity than reverse biased p-n junction diode methods. Carriers of onl
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a06d5e71239423907e9c2ddeb1dd0ebe
https://doi.org/10.1109/t-ed.1971.17144
https://doi.org/10.1109/t-ed.1971.17144
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.