Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"W. Saiki"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Alloys and Compounds. 312:104-110
The uranium–thorium mixed zirconium hydrides of UTh 4 Zr 10 H x ( x =20, 24, 27) have been successfully fabricated without large crack by means of a Sieverts apparatus. The scanning electron microscope (SEM) and X-ray diffraction (XRD) analyses sho
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::21a3308e6d105170fad3cbd2b3b17713
https://doi.org/10.1016/s0925-8388(00)01166-x
https://doi.org/10.1016/s0925-8388(00)01166-x
Publikováno v:
Journal of Nuclear Materials. 187:138-145
The irradiation damage was studied by means of ESR measurement for highly oriented pyrolytic graphite irradiated by 20 keV He+ ions. In addition to the line which was due to the charge carriers, a symmetric line was observed in the ESR spectrum after
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::08b38421f3dc012d1a838082b4e2abbc
https://doi.org/10.1016/0022-3115(92)90545-v
https://doi.org/10.1016/0022-3115(92)90545-v
Publikováno v:
TCP 2006 ISBN: 9783540734659
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c13ec2917366e0bb475227af94f42a16
https://doi.org/10.1007/978-3-540-73466-6_54
https://doi.org/10.1007/978-3-540-73466-6_54
Publikováno v:
ChemInform. 32
The uranium–thorium mixed zirconium hydrides of UTh 4 Zr 10 H x ( x =20, 24, 27) have been successfully fabricated without large crack by means of a Sieverts apparatus. The scanning electron microscope (SEM) and X-ray diffraction (XRD) analyses sho
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3993011c55874a62034cf9209bf10e80
https://doi.org/10.1002/chin.200115010
https://doi.org/10.1002/chin.200115010
Publikováno v:
28th International Reliability Physics Symposium.
The effects of temperature, electric field, and the number of polarization reversals on ferroelectric memory aging are analyzed on ferroelectric capacitors and memory products. The signal loss proceeds linearly with the log of time. A relationship be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e29419db65701c85308f9159ec06b26d
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.