Zobrazeno 1 - 10
of 12
pro vyhledávání: '"W. Imler"'
Autor:
Daniel A. Steigerwald, M. J. Ludowise, W. Imler, H. Liu, J. Amano, C. P. Kuo, Steven D Lester, Changhua Chen, M. G. Craford
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials. 25:1004-1008
The growth of AlGaN using organometallic vapor phase epitaxy has been studied as a function of reactor pressure in a horizontal reactor. At atmospheric pressure, GaN with growth efficiency comparable to that of GaAs in the same reactor is obtained. I
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 68:3144-3146
The electronic properties of Si donors in heteroepitaxial layers of GaN were investigated. The n‐type GaN layers were grown by metalorganic chemical vapor deposition and either intentionally doped with Si or unintentionally doped. The samples were
Autor:
Stephen W. Imler
Publikováno v:
Journal for healthcare quality : official publication of the National Association for Healthcare Quality. 19(6)
Providers will continue to experience increasing pressure to demonstrate cost-effective, high-quality care. For relevant comparisons between providers, outcomes must be evaluated with respect to severity of illness and mortality risk. However, most h
Autor:
S. S. Ruvimov, Joel W. Ager, W. Swider, Hiroshi Amano, Zuzanna Liliental-Weber, C F Kisielowski, Jack Washburn, Tadeusz Suski, W. Imler, Chun-Wen Kuo, Yan-Feng Chen, Isamu Akasaki
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
The influence of Si doping on the structure of GaN grown by metal-organic chemicalvapor deposition (MOCVD) has been studied using transmission electron microscopy (TEM), x-ray diffraction and Raman spectroscopy. Undoped and low Si doped samples were
Publikováno v:
MRS Proceedings. 395
The parasitic reactions between ammonia and commonly used alkyls have been studied in a horizontal OMVPE reactor. The results indicate that parasitic reactions between TMA1 and NH3 is severe, leading to the necessity to grow A1N at low reactor pressu
Publikováno v:
MRS Proceedings. 395
Shallow and deep electronic defects in MOCVD-grown GaN were characterized by variable temperature Hall effect measurements, deep level transient spectroscopy (DLTS) and photoemission capacitance transient spectroscopy (O-DLTS). Unintentionally and Si
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.