Zobrazeno 1 - 10
of 116
pro vyhledávání: '"W T, Yeh"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
W. T. Yeh, Wen Tung Cheng
Publikováno v:
Proceedings of the 3rd International Conference on Theoretical and Applied Nanoscience and Nanotechnology (TANN'19).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Surface Science. 275:269-272
We have investigated the visible/near-infrared photodetectors based on the nipip HIT structure. The responsivities of the nipip photodetectors were compared with the pinin photodetectors. The nipip structure has a better near-infrared response; meanw
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ying-Ho Chen, Chee-Wee Liu, Chang-Hsien Lin, W.-T Yeh, S.-J Lo, Fu-Liang Yang, I-Hsieh Wong, Hung-Chih Chang, H.-C Sun, H.-J Ciou, Chenming Hu
Publikováno v:
2013 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA).
High energy 13.5 nm EUV (~92 eV) induced Ge MOSFET degradation is reportedly for the first time. The degradation of threshold voltage, subthreshold swing, and channel mobility is attributed to the generation of interface traps and oxide fixed charges