Zobrazeno 1 - 10
of 287
pro vyhledávání: '"Vrancken C"'
Autor:
Chiarella, T., Witters, L., Mercha, A., Kerner, C., Rakowski, M., Ortolland, C., Ragnarsson, L.-Å., Parvais, B., De Keersgieter, A., Kubicek, S., Redolfi, A., Vrancken, C., Brus, S., Lauwers, A., Absil, P., Biesemans, S., Hoffmann, T.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2010 54(9):855-860
Autor:
Veloso, A., Yu, H.Y., Lauwers, A., Chang, S.Z., Adelmann, C., Onsia, B., Demand, M., Brus, S., Vrancken, C., Singanamalla, R., Lehnen, P., Kittl, J., Kauerauf, T., Vos, R., O′Sullivan, B.J., Van Elshocht, S., Mitsuhashi, R., Whittemore, G., Yin, K.M., Niwa, M., Hoffmann, T., Absil, P., Jurczak, M., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Solid State Electronics September 2008 52(9):1303-1311
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(11):2547-2551
Autor:
Masahara, M., Surdeanu, R., Witters, L., Doornbos, G., Nguyen, V.H., Van den bosch, G., Vrancken, C., Devriendt, K., Neuilly, F., Kunnen, E., Suzuki, E., Jurczak, M., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2097-2100
Autor:
Kittl, J.A., Lauwers, A., Pawlak, M.A., Veloso, A., Yu, H.Y., Chang, S.Z., Hoffmann, T., Pourtois, G., Brus, S., Demeurisse, C., Vrancken, C., Absil, P.P., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1857-1860
Autor:
Lauwers, A., van Dal, M.J.H., Verheyen, P., Chamirian, O., Demeurisse, C., Mertens, S., Vrancken, C., Verheyden, K., Funk, K., Kittl, J.A.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2268-2271
Autor:
Kittl, J.A., Pawlak, M.A., Lauwers, A., Demeurisse, C., Hoffmann, T., Veloso, A., Anil, K.G., Kubicek, S., Niwa, M., van Dal, M.J.H., Richard, O., Jurczak, M., Vrancken, C., Chiarella, T., Brus, S., Maex, K., Biesemans, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2117-2121
Autor:
Lauwers, A., Kittl, J.A., Van Dal, M., Chamirian, O., Lindsay, R., de Potter, M., Demeurisse, C., Vrancken, C., Maex, K., Pagès, X., Van der Jeugd, K., Kuznetsov, V., Granneman, E.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2004 76(1-4):303-310
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):131-142
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.