Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Vorobets, M.M."'
Autor:
Vorobets, G.I.1 rt-dpt@chnu.cv.ua, Vorobets, M.M.1, Strebezhev, V.N.1, buzaneva, E.V.2, Shkavro, A.G.2 shkavro@univ.kiev.ua
Publikováno v:
Semiconductors. Jun2004, Vol. 38 Issue 6, p663-665. 3p.
Using the scanning electron microscopy and optical metallography, the formation and redistribution of structural defects in the near-contact silicon layer of thermally untreated Al-n-Si structures resulting from thermoelastic stresses developed under
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::1024a0e679233a40257b0dcacc94e383
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139698
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139698
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.