Zobrazeno 1 - 10 of 23 pro vyhledávání: '"Volkovsky, Yu. A."'
1
Akademický článek
Comparative X-ray Diffractometry of the Defect Structure of ZnO Epitaxial Films Deposited by Magnetron Sputtering on C-Plane Al2O3 Substrates in Inhomogeneous Electric Field.
Autor: Volkovsky, Yu. A.1 (AUTHOR) irlandez08@yandex.ru, Zhernova, V. A.1 (AUTHOR), Folomeshkin, M. S.1 (AUTHOR), Prosekov, P. A.1 (AUTHOR), Muslimov, A. E.1 (AUTHOR), Butashin, A. V.1 (AUTHOR), Ismailov, A. M.2 (AUTHOR), Grigoriev, Yu. V.1 (AUTHOR), Pisarevsky, Yu. V.1 (AUTHOR), Kanevsky, V. M.1,3 (AUTHOR)
Publikováno v: Crystallography Reports. Apr2023, Vol. 68 Issue 2, p195-202. 8p.
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
X-ray Diffraction Analysis of the Structure In0.53Ga0.47As Films Grown on (100) and (111)A GaAs Substrates with a Metamorphic Buffer.
Autor: Folomeshkin, M. S.1,2 (AUTHOR) folmaxim@gmail.com, Volkovsky, Yu. A.1,2 (AUTHOR), Prosekov, P. A.1,2 (AUTHOR), Galiev, G. B.3 (AUTHOR), Klimov, E. A.3 (AUTHOR), Klochkov, A. N.3 (AUTHOR), Pushkarev, S. S.3 (AUTHOR), Seregin, A. Yu.1,2 (AUTHOR), Pisarevsky, Yu. V.1,2 (AUTHOR), Blagov, A. E.1,2 (AUTHOR), Kovalchuk, M. V.1,2,4 (AUTHOR)
Publikováno v: Crystallography Reports. Jun2022, Vol. 67 Issue 3, p317-322. 6p.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
X-Ray Reflectometry Study of the State of the Surface Layer of Polished Silicon Substrates Depending on the Methods of Their Cleaning.
Autor: Volkovsky, Yu. A., Seregin, A. Yu., Folomeshkin, M. S., Prosekov, P. A., Pavlyuk, M. D., Pisarevsky, Yu. V., Blagov, A. E., Kovalchuk, M. V.
Publikováno v: Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques; Sep2021, Vol. 15 Issue 5, p927-933, 7p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje