Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Volkerink, E."'
Publikováno v:
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings; 2004, p43-48, 6p
Autor:
McCluskey, E.J., Al-Yamani, A., Li, J.C.-M., Chao-Wen Tseng, Volkerink, E., Ferhani, F.-F., Li, E., Mitra, S.
Publikováno v:
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings; 2004, p16-22, 7p
Publikováno v:
2004 International Conference on Test; 2004, p1128-1137, 10p
Publikováno v:
International Test Conference, 2003. Proceedings ITC 2003; 2003, p1069-1078, 10p
Publikováno v:
Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002); 2002, p97-102, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Al-Yamani, A., Chang, J., Franco, P., Li, J., Ma, S., Mitra, S., Intaik Park, Chao-wen Tseng, Volkerink, E.
Publikováno v:
2009 International Test Conference; 2009, p1-1, 1p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.