Výsledky vyhledávání - "Voisin, J.M."

Akademický článek

Extraction and evolution of Fowler-Nordheim tunneling parameters of thin gate oxides under EEPROM-like dynamic degradation

Autor: Croci, S., Voisin, J.M., Plossu, C., Raynaud, C., Autran, J.L., Boivin, P., Mirabel, J.M.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability 1999 39(6):879-884

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Dynamic stressing of thin tunnel oxides: a way to emulate a single EEPROM cell programming function

Autor: Plossu, C ^{a, *}, Voisin, J.M ^a, Bos, B ^a, Raynaud, C ^a, Bouchakour, R ^b, Boivin, P ^c, Balland, B ^a

Publikováno v: In Journal of Non-Crystalline Solids 1999 245(1):85-91

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.