Zobrazeno 1 - 10
of 149
pro vyhledávání: '"Vogg, G"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1554-1558
Publikováno v:
Planta, 1998 Feb 01. 204(2), 193-200.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/23385227
Publikováno v:
Planta, 1998 Feb 01. 204(2), 201-206.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/23385228
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nebrich, L. *, Neumeier, K., Stadler, A., Weber, J., Bensch, F., Kreuzer, S., Vogg, G., Herrmann, K., Klumpp, A., Wieland, R., Bonfert, D., Soldner, W., Ramm, P.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):429-433
Autor:
Weber, J., Nebrich, L., Bensch, F., Neumeier, K., Vogg, G., Wieland, R., Bonfert, D., Ramm, P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 82(3):215-220
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2001 223(4):573-576
Autor:
Vogg, G. *, Brandt, M.S., Stutzmann, M., Genchev, I., Bergmaier, A., Görgens, L., Dollinger, G.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2000 212(1):148-154
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 7/1/2004, Vol. 96 Issue 1, p895-902, 8p, 1 Diagram, 1 Chart, 5 Graphs
Publikováno v:
In Journal of Chromatography A 1999 855(2):563-573