Výsledky vyhledávání

Correlating the Density of Trap-States and the Field-Effect Performance in Metal-Oxide Thin-Film Transistors With High-$\kappa$ Gate Dielectrics via a Trap-Limited Conduction Method

Autor: Shu-Tong Chang, Kou-Chen Liu, Wen-Kai Lin, Vito Vito, Chun-Wen Cheng, Meng-Chyi Wu, Mochamad Januar

Publikováno v: IEEE Transactions on Nanotechnology. 20:321-331

We performed a quantitative study using a trap-limited conduction method to correlate the density of localized states with the performance of Sm2O3- and HfO2-gated metal-oxide thin-film transistors (TFTs) fabricated at room temperature. We found that

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::96013661efc3fb05c9d60b8368e762a0
https://doi.org/10.1109/tnano.2021.3058408

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání