Zobrazeno 1 - 10
of 47
pro vyhledávání: '"Vicarini R"'
Autor:
Carlé, C., Keshavarzi, S., Mursa, A., Karvinen, P., Chutani, R., Bargiel, S., Queste, S., Vicarini, R., Abbé, P., Hafiz, M. Abdel, Maurice, V., Boudot, R., Passilly, N.
The stability and accuracy of atomic devices can be degraded by the evolution of their cell inner atmosphere. Hence, the undesired entrance or leakage of background or buffer gas, respectively, that can permeate through the cell walls, should be slow
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2303.13927
Autor:
Hafiz, M. Abdel, Vicarini, R., Passilly, N., Calosso, C. E., Maurice, V., Pollock, J. W., Taichenachev, A. V., Yudin, V. I., Kitching, J., Boudot, R.
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 14, 034015 (2020)
Light-shifts are known to be an important limitation to the mid- and long-term fractional frequency stability of different types of atomic clocks. In this article, we demonstrate the experimental implementation of an advanced anti-light shift interro
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2005.05096
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Carlé, C., Keshavarzi, S., Mursa, A., Karvinen, P., Chutani, R., Bargiel, S., Queste, S., Vicarini, R., Abbé, P., Abdel Hafiz, M., Maurice, V., Boudot, R., Passilly, N.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/7/2023, Vol. 133 Issue 21, p1-7, 7p
Publikováno v:
Optics letters [Opt Lett] 2024 Apr 15; Vol. 49 (8), pp. 1953-1956.
Autor:
Vicarini, R., Maurice, V., Abdel Hafiz, M., Rutkowski, J., Gorecki, C., Passilly, N., Ribetto, L., Gaff, V., Volant, V., Galliou, S., Boudot, R.
Publikováno v:
In Sensors and Actuators: A. Physical 1 September 2018 280:99-106
Publikováno v:
Optics letters [Opt Lett] 2023 Mar 15; Vol. 48 (6), pp. 1526-1529.
Publikováno v:
Optics express [Opt Express] 2023 Feb 27; Vol. 31 (5), pp. 8160-8169.
Autor:
Maurice V; IEMN - Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, UMR8520 CNRS, Université Lille, Centrale Lille, F-59000 Lille, France., Carlé C; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Keshavarzi S; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Chutani R; IEMN - Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, UMR8520 CNRS, Université Lille, Centrale Lille, F-59000 Lille, France., Queste S; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Gauthier-Manuel L; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Cote JM; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Vicarini R; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Abdel Hafiz M; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Boudot R; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France., Passilly N; FEMTO-ST Institute, UMR6174 CNRS, Université Bourgogne Franche-Comté, F-25030 Besançon, France.
Publikováno v:
Microsystems & nanoengineering [Microsyst Nanoeng] 2022 Dec 14; Vol. 8, pp. 129. Date of Electronic Publication: 2022 Dec 14 (Print Publication: 2022).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.