Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Veyrié, D."'
Autor:
Michaud, J., Pedroza, G., Béchou, L., How, L.S., Gilard, O., Veyrié, D., Laruelle, F., Grauby, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1746-1749
Autor:
Minoglou, Kyriaki, Karafolas, Nikos, Cugny, Bruno, Boutillier, M., Mathieu, K., Petit-Poupart, S., Virmontois, C., Cucchetti, E., Delahaye, A., Lalucaa, V., Veyrié, D., Hubert, M., Sauget, V., Tisserand, S.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; September 2023, Vol. 12777 Issue: 1 p127776R-127776R-15, 12649840p
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1764-1769
Autor:
Boutillier, M., Mathieu, K., Petit-Poupart, S., Virmontois, C., Cucchetti, E., Delahaye, A., Lalucaa, V., Veyrié, D., Hubert, M., Sauget, V., Tisserand, S.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 1/15/2024, Vol. 12777, p127776R-127776R-15, 1p
Autor:
Mottet, A., Jillard, S., Hauden, J., Grossard, N., Porte, H., Tchahame, J., Veyrié, D., Gilard, O.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 8/31/2019, Vol. 11180, p2-12, 11p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sodnik, Zoran, Karafolas, Nikos, Cugny, Bruno, Mottet, A., Jillard, S., Hauden, J., Grossard, N., Porte, H., Tchahame, J., Veyrié, D., Gilard, O.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; July 2019, Vol. 11180 Issue: 1 p111803K-111803K-12, 11068510p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2006, Issue 1, p61110R-61110R-9, 9p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.