Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"Very large scale integration circuits"'
Publikováno v:
The Journal of Engineering (2019)
There are a number of satellites working in the harsh space environment. The charged particles in space may strike the electron devices causing the undesired influences, such as soft errors in memory devices or permanent damage in hardware circuits.
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3be5a2eb5aef4ccfacecea2be726ee2c
Publikováno v:
The Journal of Engineering (2019)
There are a number of satellites working in the harsh space environment. The charged particles in space may strike the electron devices causing the undesired influences, such as soft errors in memory devices or permanent damage in hardware circuits.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2b6ffdd465b4db47ef75ac8ca29079ca
https://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/joe.2019.0703
https://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/joe.2019.0703
Publikováno v:
Electronics
Volume 10
Issue 9
Electronics, Vol 10, Iss 1113, p 1113 (2021)
Volume 10
Issue 9
Electronics, Vol 10, Iss 1113, p 1113 (2021)
The Residue Number System (RNS) is a non-weighted number system. Benefiting from its inherent parallelism, RNS has been widely studied and used in Digital Signal Processing (DSP) systems and cryptography. However, since the dynamic range in RNS has b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chef, Samuel
Les progrès dans la miniaturisation des transistors permettent de réaliser des circuits toujours plus performants. En contrepartie, dans le cas où il y a défaillance, l'analyse de ces circuits est plus délicate. L'étape de localisation du défa
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2014DIJOS032/document
Autor:
Chef , Samuel
Publikováno v:
Electronique. Université de Bourgogne, 2014. Français. 〈NNT : 2014DIJOS032〉
Electronique. Université de Bourgogne, 2014. Français. ⟨NNT : 2014DIJOS032⟩
Electronique. Université de Bourgogne, 2014. Français. ⟨NNT : 2014DIJOS032⟩
Scaling progresses has the benefit of making chips always more powerful. On the other hand, when there is a failure, the analysis of such advanced devices has became more sensitive. The defect localization step of this process is the critical one. In
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fcf05f5581f6b561772885c57741d903
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01128218
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01128218
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chef, Samuel
Scaling progresses has the benefit of making chips always more powerful. On the other hand, when there is a failure, the analysis of such advanced devices has became more sensitive. The defect localization step of this process is the critical one. In
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3711::fcf05f5581f6b561772885c57741d903
https://theses.hal.science/tel-01128218
https://theses.hal.science/tel-01128218
Autor:
Ludwig, Stefan, Mathis, Wolfgang
Publikováno v:
COMPEL-The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering 30 (2011), Nr. 4
Purpose: This paper aims to present a method for the efficient reduction of networks modelling parasitic couplings in very-large-scale integration (VLSI) circuits. Design/methodology/approach: The parasitic effects are modelled by large RLC networks
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e75a1b610cddd30d96a3e48e693cc3e7