Zobrazeno 1 - 10
of 53
pro vyhledávání: '"Vervoort, I."'
Autor:
Eichenbaum, G., Zhou, J., De Smedt, A., De Jonghe, S., Looszova, A., Arien, T., Van Goethem, F., Vervoort, I., Shukla, U., Lammens, L.
Publikováno v:
In Journal of Pharmacological and Toxicological Methods November-December 2013 68(3):394-406
Autor:
Das, A ∗, Kokubo, T, Furukawa, Y, Struyf, H, Vos, I, Sijmus, B, Iacopi, F, Van. Aelst, J, Le, Q.T, Carbonell, L, Brongersma, S, Maenhoudt, M, Tokei, Z, Vervoort, I, Sleeckx, E, Stucchi, M, Schaekers, M, Boullart, W, Rosseel, E, Van Hove, M, Vanhaelemeersch, S, Shiota, A, Maex, K
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):25-33
Autor:
Donaton, R.A. *, Coenegrachts, B., Maenhoudt, M., Pollentier, I., Struyf, H., Vanhaelemeersch, S., Vos, I., Meuris, M., Fyen, W., Beyer, G., Tokei, Z., Stucchi, M., Vervoort, I., De Roest, D., Maex, K.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 55(1):277-283
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2002, Vol. 612 Issue 1, p229, 6p, 2 Black and White Photographs, 1 Diagram, 2 Graphs
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; Nov1999, Vol. 491 Issue 1, p249-254, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Van Olmen, J., Wu, W., Van Hove, M., Travaly, Y., Brongersma, S.H., Eyckens, B., Maenhoudt, M., Van Aelst, J., Struyf, H., Demuynck, S., Tokei, Z., Vervoort, I., Sijmus, B., Vos, I., Ciofi, I., Stucchi, M., Maex, K., Iacopi, F.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.03TH8695); 2003, p171-173, 3p