Zobrazeno 1 - 10
of 114
pro vyhledávání: '"Vernica, I."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:1036-1041
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Xu, Yang1 (AUTHOR) xuyang_cumt@163.com, Pang, Lei2 (AUTHOR), Xie, Tianxi3 (AUTHOR), Chen, Zhengguang4 (AUTHOR), Guo, Jun2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Scientific Reports. 11/2/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-12. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alavi, Omid1,2,3 (AUTHOR) omid.alavi@uhasselt.be, De Ceuninck, Ward1,2,3 (AUTHOR) michael.daenen@uhasselt.be, Daenen, Michaël1,2,3 (AUTHOR)
Publikováno v:
Energies (19961073). Jun2024, Vol. 17 Issue 11, p2616. 23p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lin, Chang-Hua1 (AUTHOR) link@mail.ntust.edu.tw, Farooqui, Shoeb Azam1 (AUTHOR) shoebazam6331@gmail.com, Liu, Hwa-Dong2 (AUTHOR) hdliu@ntnu.edu.tw, Huang, Jian-Jang3 (AUTHOR) jjhuang@ntu.edu.tw, Fahad, Mohd1 (AUTHOR) m11007814@mail.ntust.edu.tw
Publikováno v:
Mathematics (2227-7390). Nov2023, Vol. 11 Issue 21, p4553. 24p.