Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Verkouteren JR"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Krauss ST; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899, USA., Forbes TP; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899, USA., Lawrence JA; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899, USA., Gillen G; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899, USA., Verkouteren JR; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 20899, USA.
Publikováno v:
Electrophoresis [Electrophoresis] 2020 Sep; Vol. 41 (16-17), pp. 1482-1490. Date of Electronic Publication: 2020 Jul 12.
Autor:
Forbes TP; National Institute of Standards and Technology, Materials Measurement Science Division, Gaithersburg, MD, USA. thomas.forbes@nist.gov., Lawrence J, Verkouteren JR, Verkouteren RM
Publikováno v:
The Analyst [Analyst] 2019 Nov 07; Vol. 144 (21), pp. 6391-6403. Date of Electronic Publication: 2019 Oct 03.
Autor:
Forbes TP; Materials Measurement Science Division , National Institute of Standards and Technology , Gaithersburg , Maryland 20899 , United States., Verkouteren JR; Materials Measurement Science Division , National Institute of Standards and Technology , Gaithersburg , Maryland 20899 , United States.
Publikováno v:
Analytical chemistry [Anal Chem] 2019 Jan 02; Vol. 91 (1), pp. 1089-1097. Date of Electronic Publication: 2018 Dec 14.