Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Veligura, Vasilisa"'
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science and Technology B 32(2), 020801 (2014)
Helium Ion Microcopy (HIM) based on Gas Field Ion Sources (GFIS) represents a new ultra high resolution microscopy and nano-fabrication technique. It is an enabling technology that not only provides imagery of conducting as well as uncoated insulatin
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1311.1711
Autor:
Veligura, Vasilisa, Hlawacek, Gregor, van Gastel, Raoul, Zandvliet, Harold J.W., Poelsema, Bene
Publikováno v:
In Journal of Luminescence January 2015 157:321-326
Autor:
Veligura, Vasilisa, Hlawacek, Gregor, Jahn, Uwe, van Gastel, Raoul, Zandvliet, Harold J. W., Poelsema, Bene
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 116 Issue 1, p183502-1-183502-5, 5p, 1 Black and White Photograph, 3 Graphs
Publikováno v:
Helium Ion Microscopy ISBN: 9783319419886
Helium Ion Microscopy, 205-224
STARTPAGE=205;ENDPAGE=224;TITLE=Helium Ion Microscopy
Helium Ion Microscopy, 205-224
STARTPAGE=205;ENDPAGE=224;TITLE=Helium Ion Microscopy
While the default imaging mode in HIM uses secondary electrons, backscattered helium or neon contains valuable information about the sample composition and structure. In this chapter, we will discuss how backscattered helium can be used to obtain inf
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::bd9116b28546cc766609533490608798
https://doi.org/10.1007/978-3-319-41990-9_9
https://doi.org/10.1007/978-3-319-41990-9_9
Publikováno v:
ISSUE=9;TITLE=9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices, ALC 2013
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::67158d3dd997724341ab5a0c408e78c7
https://research.utwente.nl/en/publications/ionoluminescence-in-helium-ion-microscopy(777b6ce2-921a-4941-b427-3e10edba8ce4).html
https://research.utwente.nl/en/publications/ionoluminescence-in-helium-ion-microscopy(777b6ce2-921a-4941-b427-3e10edba8ce4).html
Autor:
Veligura, Vasilisa, Hlawacek, Gregor
Publikováno v:
Helium Ion Microscopy (9783319419886); 2016, p325-351, 27p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.