Zobrazeno 1 - 10
of 160
pro vyhledávání: '"Veer, N."'
Autor:
John C. Lin, LaTunia G. Pack Melton, Judith A. Hannon, Mehti Koklu, Keith B. Paschal, Veer N. Vatsa, Marlyn Y. Andino
Publikováno v:
AIAA Journal. 59:3748-3763
A 10%-scale high-lift version of the Common Research Model (CRM-HL) was tested in the NASA Langley Research Center’s 14 by 22 ft subsonic tunnel. The focus of the wind-tunnel tests was to investiga...
Publikováno v:
28th AIAA/CEAS Aeroacoustics 2022 Conference.
Autor:
Keith B. Paschal, Mehti Koklu, Veer N. Vatsa, Judith A. Hannon, LaTunia G. Pack Melton, John C. Lin, Marlyn Y. Andino
Publikováno v:
Journal of Aircraft. 57:1121-1133
A 10%-scale high-lift version of the Common Research Model and an active flow control (AFC) version of the model equipped with a simple-hinged flap were successfully tested. The main objective of t...
Publikováno v:
AIAA AVIATION 2021 FORUM.
Numerical simulations have been performed for a conventional high-lift version of the Common Research Model (CRM) model corresponding to landing and take- off configurations. Computed values of lift and drag for the landing configuration are compared
Autor:
Arvin Shmilovich, Veer N. Vatsa
Publikováno v:
AIAA Journal. 57:35-52
This survey paper consists of a review of flow-control applications using numerical simulations, where the goal is to provide guidance to the developers of flow-control approaches. The computationa...
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
AIAA AVIATION 2020 FORUM.
Autor:
Keith C. Paschal, Veer N. Vatsa, Mehti Koklu, John C. Lin, LaTunia G. Pack Melton, Marlyn Y. Andino, Judith A. Hannon
Publikováno v:
AIAA Scitech 2020 Forum.
Autor:
John C. Lin, Keith C. Paschal, Judith A. Hannon, Mehti Koklu, LaTunia G. Pack Melton, Veer N. Vatsa, Marlyn Y. Andino
Publikováno v:
AIAA Scitech 2020 Forum.