Zobrazeno 1 - 10
of 98
pro vyhledávání: '"Vedrenne Nicolas"'
Autor:
Warin, Julie, Vedrenne, Nicolas, Tam, Vivian, Zhu, Mengxia, Yin, Danqing, Lin, Xinyi, Guidoux-D’halluin, Bluwen, Humeau, Antoine, Roseiro, Luce, Paillat, Lily, Chédeville, Claire, Chariau, Caroline, Riemers, Frank, Templin, Markus, Guicheux, Jérôme, Tryfonidou, Marianna A., Ho, Joshua W.K., David, Laurent, Chan, Danny, Camus, Anne
Publikováno v:
In iScience 16 February 2024 27(2)
Autor:
Paillier, Laurie, Bidan, Raphaël Le, Conan, Jean-Marc, Artaud, Géraldine, Védrenne, Nicolas, Jaouën, Yves
In the framework of optical high data rate satellite-to-ground links, we investigate the performance of a coherent receiver which combines an adaptive optics system and a digital carrier synchronization technique. We propose a digital carrier synchro
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1911.11851
Autor:
Janaszkiewicz, Angelika, Tóth, Ágota, Faucher, Quentin, Arnion, Hélène, Védrenne, Nicolas, Barin-Le Guellec, Chantal, Marquet, Pierre, Di Meo, Florent
Publikováno v:
In Biomedicine & Pharmacotherapy April 2023 160
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Parreau, Simon, Vedrenne, Nicolas, Regent, Alexis, Richard, Laurence, Sindou, Philippe, Mouthon, Luc, Fauchais, Anne-Laure, Jauberteau, Marie-Odile, Ly, Kim-Heang
Publikováno v:
In Annals of Diagnostic Pathology June 2021 52
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Védrenne, Nicolas, Mugnier, Laurent M., Michau, Vincent, Velluet, Marie-Thérèse, Bierent, Rudolph
The control of the optical quality of a laser beam requires a complex amplitude measurement able to deal with strong modulus variations and potentially highly perturbed wavefronts. The method proposed here consists in an extension of phase diversity
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1402.2940
Cn2 profile monitoring usually makes use of wavefront slope correlations or of scintillation pattern correlations. Wavefront slope correlations provide sensitivity to layers close to the receiving plane. In addition, scintillation correlations allow
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1101.3924
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.