Zobrazeno 1 - 10 of 406 pro vyhledávání: '"Vedam, K."'
1
Akademický článek
PRELIMINARY REPORT ON THE STRUCTURE OF DIBARIUM CUPRICFORMATE
Autor: Sundaramma, K., Vedam, K., Rao, R. V. G. Sundara
Publikováno v: Current Science, 1957 Oct 01. 26(10), 315-316.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/24057274
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
ELASTIC CONSTANTS OF FUSED QUARTZ
Autor: Krishnan, R. S., Rao, R. V. G. Sundara, Vedam, K.
Publikováno v: Current Science, 1950 Mar 01. 19(3), 89-89.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/24212305
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
NEW FERRO- AND ANTIFERROELECTRIC CRYSTALS
Autor: VEDAM, K.
Publikováno v: Current Science, 1960 Mar 01. 29(3), 79-82.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/24214607
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
A NEW METHOD OF MEASURING THE ELASTIC CONSTANTS OF SOLIDS
Autor: Vedam, K.
Publikováno v: Current Science, 1950 Jul 01. 19(7), 205-206.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/24212451
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Piezo- and elasto-optic properties of liquids under high pressure. III. Results on twelve more liquids.
Autor: Chen, C. C., Vedam, K.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; Nov1980, Vol. 73 Issue 9, p4577-4584, 8p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Piezo- and elasto-optic properties of liquids under high pressure. I. Refractive index vs pressure and strain.
Autor: Vedam, K., Limsuwan, Pichet
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; Dec1978, Vol. 69 Issue 11, p4762-4771, 10p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Piezo- and elasto-optic properties of liquids under high pressure. II. Refractive index vs density.
Autor: Vedam, K., Limsuwan, Pichet
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; Dec1978, Vol. 69 Issue 11, p4772-4778, 7p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Spectroscopic ellipsometry study of glow-discharge-deposited thin films of a-Ge:H.
Autor: Blanco, J. R., McMarr, P. J., Vedam, K., Ross, R. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 11/15/1986, Vol. 60 Issue 10, p3724, 8p, 1 Black and White Photograph, 5 Charts, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Spectroscopic ellipsometry: A new tool for nondestructive depth profiling and characterization of interfaces.
Autor: McMarr, P. J., Vedam, K., Narayan, J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/1/1986, Vol. 59 Issue 3, p694, 8p, 1 Black and White Photograph, 4 Diagrams, 4 Charts, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Ar ion beam and CCl4 reactive ion etching: A comparison of etching damage and of damage passivation by hydrogen.
Autor: Mu, X. C., Fonash, S. J., Yang, B. Y., Vedam, K., Rohatgi, A., Rieger, J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 12/1/1985, Vol. 58 Issue 11, p4282, 10p, 2 Black and White Photographs, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje