Zobrazeno 1 - 10
of 234
pro vyhledávání: '"Vayshenker, I."'
Autor:
Verma, V. B., Korzh, B., Bussières, F., Horansky, R. D., Dyer, S. D., Lita, A. E., Vayshenker, I., Marsili, F., Shaw, M. D., Zbinden, H., Mirin, R. P., Nam, S. W.
We demonstrate high-efficiency superconducting nanowire single-photon detectors (SNSPDs) fabricated from MoSi thin-films. We measure a maximum system detection efficiency (SDE) of 87 +- 0.5 % at 1542 nm at a temperature of 0.7 K, with a jitter of 76
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1504.02793
Autor:
Marsili, F., Verma, V. B., Stern, J. A., Harrington, S., Lita, A. E., Gerrits, T., Vayshenker, I., Baek, B., Shaw, M. D., Mirin, R. P., Nam, S. W.
Single-photon detectors (SPDs) at near infrared wavelengths with high system detection efficiency (> 90%), low dark count rate (< 1 counts per second, cps), low timing jitter (< 100 ps), and short reset time (< 100 ns) would enable landmark experimen
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1209.5774
Publikováno v:
Journal of Research of the National Institute of Standards & Technology; Nov2019, Vol. 124, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gerrits T; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America., Migdall A; Joint Quantum Institute, University of Maryland and National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America., Bienfang JC; Joint Quantum Institute, University of Maryland and National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America., Lehman J; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America., Nam SW; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America., Splett J; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America., Vayshenker I; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America., Wang J; National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, United States of America.
Publikováno v:
Metrologia [Metrologia] 2020; Vol. 57 (1).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.