Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Vaupel, Matthias"'
Autor:
Wurstbauer, Ulrich, Röling, Christian, Wurstbauer, Ursula, Wegscheider, Werner, Vaupel, Matthias, Thiesen, Peter H., Weiss, Dieter
Imaging ellipsometry studies of graphene on SiO2/Si and crystalline GaAs are presented. We demonstrate that imaging ellipsometry is a powerful tool to detect and characterize graphene on any flat substrate. Variable angle spectroscopic ellipsometry i
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1008.3206
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Nov2013, Vol. 114 Issue 18, p183107, 5p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 2 Graphs
Autor:
Fabre, Claude, Vaupel, Matthias, Treps, Nicolas, Cohadon, Pierre-François, Schwob, Catherine, Maître, Agnès
Publikováno v:
In Comptes Rendus de l'Academie des Sciences Series IV Physics 2000 1(5):553-559
Autor:
Schuoecker, Dieter, Majer, Richard, Brunnbauer, Julia, Bohrer, Markus, Vaupel, Matthias, Nirnberger, Robert, Weinberger, Bernhard, Jamalieh, Murad
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; January 2017, Vol. 10254 Issue: 1 p102540U-102540U-21, 10151482p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.