Zobrazeno 1 - 10
of 220
pro vyhledávání: '"Vanstreels, K."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2020 107
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Redzheb, M., Prager, L., Krishtab, M., Armini, S., Vanstreels, K., Franquet, A., Van Der Voort, P., Baklanov, M.R.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 20 April 2016 156:103-107
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2 April 2015 137:75-78
Autor:
Godavarthi, S., Le, Q.T., Verdonck, P., Mardani, S., Vanstreels, K., Van Besien, E., Baklanov, M.R.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering July 2013 107:134-137
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2016, Vol. 119 Issue 2, p025302-1-025302-7, 7p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 116 Issue 2, p023503-1-023503-7, 7p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 2 Charts, 4 Graphs
Autor:
Vanstreels, K., Czarnecki, P., T. Kirimura, Siew, Y. K., De Wolf, I., Bömmels, J., Tőkei, Zs., Croes, K.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 115 Issue 7, p1-6, 6p, 5 Diagrams, 4 Graphs
Autor:
Urbanowicz, A. M., Vanstreels, K., Verdonck, P., Shamiryan, D., De Gendt, S., Baklanov, M. R.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Jun2010, Vol. 107 Issue 10, p104122-104129, 7p, 2 Diagrams, 1 Chart, 5 Graphs
Autor:
Rhedzeb, M, Armini, S, Okudur, OO, Vanstreels, K, Bernstorff, S, Van Der Voort, Pascal, Baklanov, M
Publikováno v:
MAM 2016, Abstracts
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______330::121b8a32b188485fdec7090c66023659
https://hdl.handle.net/1854/LU-8060164
https://hdl.handle.net/1854/LU-8060164
