Výsledky vyhledávání - "Vanhorebeek, Guido"

Akademický článek

Correlation between predicted cause of SRAM failures and in-line defect data

Autor: Coppens, Peter ^*, Vanhorebeek, Guido, De Backer, Eddy

Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2001 41(1):53-57

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Innovating SRAM design and test program for fast process-related defect recognition and failure analysis.

Autor: Coppens, Peter, Vanhorebeek, Guido, De Backer, Eddy, Yuan, Xiao J.

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1999, Issue 1, p290-297, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

High-speed VGA resolution CMOS image sensor with global shutter

Autor: Willems, Pieter, Meynants, Guy, Vanhorebeek, Guido, Ma, Cheng

Publikováno v: Proceedings of SPIE; February 2012, Vol. 8298 Issue: 1 p829802-829802-7

Zobrazit plný text záznamu