Coupling effect between the front and back interfaces in thin SOI MOSFETs

Autor: Ohata S. Cristoloveanu A. Vandooren M. Cassé F. Daugé, A.

Publikováno v: Microelectronic Engineering
Microelectronic Engineering, Elsevier, 2005, 80, pp.245-248
14th Biennial Conf. on Insulating Films On Semiconductors
14th Biennial Conf. on Insulating Films On Semiconductors, 2005, XX, pp.XX

International audience

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::009972bed6645dcde8d2534d145a1b2e
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00146218

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.