Zobrazeno 1 - 10
of 56
pro vyhledávání: '"Van der Drift, E.W.J.M."'
Autor:
Gavan, K. Babaei, Westra, H.J.R., Van der Drift, E.W.J.M., Venstra, W.J., Van der Zant, H.S.J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(4):1216-1218
Autor:
Haffouz, S. *, Grzegorczyk, A., Hageman, P.R., Vennégu≐s, P., van der Drift, E.W.J.M., Larsen, P.K.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2003 248:568-572
Autor:
Peuker, M., Lim, M.H., Smith, Henry I., Morton, R., van Langen-Suurling, A.K., Romijn, J., van der Drift, E.W.J.M., van Delft, F.C.M.J.M. ∗
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:803-809
Autor:
Carlström, C.F., Van der Heijden, R., Andriesse, M.S.P., Karouta, F., Van der Heijden, R.W., Van der Drift, E.W.J.M., Salemink, H.W.M.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B, 26 (5), 2008
An extensive investigation has been performed on inductively coupled plasma etching of InP. An important motivation for this work is the fabrication of high-aspect-ratio holes for photonic crystals. The essential chemistry is based on Cl2 with the ad
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::afc828619ed9c7b24950620b2ce332c3
http://resolver.tudelft.nl/uuid:fd13a0aa-f5bd-4187-aad0-bb532eb21635
http://resolver.tudelft.nl/uuid:fd13a0aa-f5bd-4187-aad0-bb532eb21635
Publikováno v:
2009 4th IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered & Molecular Systems; 2009, p380-384, 5p
Autor:
Chung-Kai Yang, Bossche, A., French, P.J., Sadeghian, H., Goosen, J.F.L., van Keulen, F., Gavan, K.B., van der Zant, H.S.J., van der Drift, E.W.J.M.
Publikováno v:
2009 IEEE Sensors; 2009, p869-872, 4p
Autor:
Kicken, H.H.J.E., Alkemade, P.F.A., van der Heijden, R.W., Karouta, F., Notzel, R., van der Drift, E.W.J.M., Salemink, H.W.M.
Publikováno v:
2009 IEEE International Conference on Indium Phosphide & Related Materials; 2009, p31-34, 4p
Autor:
Lukey, P.W., Caro, J., Storm, A.B., van der Drift, E.W.J.M., Zijlstra, T., Werner, K., Radelaar, S.
Publikováno v:
ESSDERC '95: Proceedings of the 25th European Solid State Device Research Conference; 1995, p623-626, 4p
Autor:
Bijkerk, F., Shmaenok, L.A., Louis, E., Voorma, H.J., Koster, N.B., Bruineman, C., Bastiaensen, R.K.F.J., van der Drift, E.W.J.M., Romijn, J., de Groot, L.E.M., Rousseeuw, B.A.C., Zijlstra, T., Platonov, Yu.Ya., Salashchenko, N.N.
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; January 1996, Vol. 30 Issue: 1-4 p183-186, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.