Zobrazeno 1 - 10
of 71
pro vyhledávání: '"Van Rijs, F."'
Autor:
van der Wel, P.J., Theeuwen, S.J.C.H., Bielen, J.A., Li, Y., van den Heuvel, R.A., Gommans, J.G., van Rijs, F., Bron, P., Peuscher, H.J.F.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(8):1279-1284
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2014 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2014); 2014, p1-4, 4p
Autor:
Alavi, M.S., van Rijs, F., Marchetti, M., Squillante, M., Tao Zhang, Theeuwen, S.J.C.H., Volokhine, Y., Jos, H.F.F., Heijden, M.P.v.d., Acar, M., de Vreede, L.C.N.
Publikováno v:
Microwave Symposium Digest (MTT), 2011 IEEE MTT-S International; 2011, p1-4, 4p
Publikováno v:
Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2011 European; 2011, p542-545, 4p
Publikováno v:
Microwave Symposium Digest (MTT), 2010 IEEE MTT-S International; 2010, p1504-1507, 4p
Autor:
Quay, R., van Raay, F., Kuhn, J., Kiefer, R., Waltereit, P., Zorcic, M., Musser, M., Bronner, W., Dammann, M., Seelmann-Eggebert, M., Schlechtweg, M., Mikulla, M., Ambacher, O., Thorpe, J., Riepe, K., van Rijs, F., Saad, M., Harm, L., Rodle, T.
Publikováno v:
2008 European Microwave Integrated Circuit Conference; 2008, p87-90, 4p
Autor:
van Rijs, F., Theeuwen, S.J.C.H.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p