Zobrazeno 1 - 10
of 57
pro vyhledávání: '"Van Ness, John W."'
Autor:
Cheng, Chi-Lun, van Ness, John W.
Publikováno v:
Technometrics, 1997 Nov 01. 39(4), 401-411.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1271504
Autor:
Cheng, Chi-Lun, Van Ness, John W.
Publikováno v:
Biometrika, 1991 Jun 01. 78(2), 442-445.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2337273
Autor:
van Ness, John W., Simpson, Cary
Publikováno v:
Technometrics, 1976 May 01. 18(2), 175-187.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1267520
Autor:
Cheng, Chi-Lun, Van Ness, John W.
Publikováno v:
The Annals of Statistics, 1992 Mar 01. 20(1), 385-397.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2242166
Autor:
Clinger, William, Van Ness, John W.
Publikováno v:
The Annals of Statistics, 1976 Jul 01. 4(4), 736-745.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2958183
Autor:
Cheng, Chi-Lun, Van Ness, John W.
Publikováno v:
Journal of the Royal Statistical Society. Series B (Methodological), 1994 Jan 01. 56(1), 167-183.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2346037
Autor:
Van Ness, John W.
Publikováno v:
Journal of the American Statistical Association, 1983 Sep 01. 78(383), 576-579.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2288119
Autor:
Fisher, Lloyd, Van Ness, John W.
Publikováno v:
Biometrika, 1971 Apr 01. 58(1), 91-104.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2334320
Autor:
Nelson, Judith Zeh, van Ness, John W.
Publikováno v:
Technometrics, 1973 May 01. 15(2), 219-231.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1266983
Autor:
Nelson, Judith Zeh, van Ness, John W.
Publikováno v:
Technometrics, 1973 Feb 01. 15(1), 1-12.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1266819