Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Van Moorhem, E."'
Autor:
Meuris, M. *, Delabie, A., Van Elshocht, S., Kubicek, S., Verheyen, P., De Jaeger, B., Van Steenbergen, J., Winderickx, G., Van Moorhem, E., Puurunen, R.L., Brijs, B., Caymax, M., Conard, T., Richard, O., Vandervorst, W., Zhao, C., De Gendt, S., Schram, T., Chiarella, T., Onsia, B., Teerlinck, I., Houssa, M., Mertens, P.W., Raskin, G., Mijlemans, P., Biesemans, S., Heyns, M.M.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):203-207
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Ge Deep Sub-Micron HiK/MG pFET with Superior Drive Compared to Si HiK/MG State-of-the-Art Reference.
Autor:
De Jaeger, B., Kaczer, B., Zimmerman, P., Opsomer, K., Winderickx, G., Van Steenbergen, J., Van Moorhem, E., Bonzom, R., Leys, F., Arena, C., Bauer, M., Werkhoven, C., Meuris, M., Heyns, M.
Publikováno v:
2006 International SiGe Technology & Device Meeting; 2006, p1-2, 2p
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.